Butuh Bantuan? Customer service Istana Agency siap melayani dan membantu Anda.
Bagi kalian kolektor buku, baik Reseller maupun Non-Reseller. Dalam Rangka Menyambut bulan suci Ramadhan, ISTANA AGENCY mengadakan Promo Special lebih dari 500 judul buku hadir dengan DISKON 40-50%!! Jangan Sampai Ketinggalan, Promo Special tanggal 9 April 2020 s.d 9 Mei 2020
Beranda » MIPA » Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Kode: UB Press Stok: Tersedia 3 pcs
OFF 20%
Berat:140 gram
Kondisi: Baru
Kategori: MIPA
Dilihat: 1.082 kali
Ulasan: Belum ada ulasan
Hubungi kami secara langsung untuk pemesanan yang lebih cepat! QUICK ORDER
Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 64.000 Rp 80.000
Tersedia / UB Press
Tentukan pilihan yang tersedia!
Sebelum Rp 80.000
Rp 64.000
(OFF 20%) Hemat Rp 16.000
Produk Terkait Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Deskripsi Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Bagikan informasi tentang Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material kepada teman atau kerabat Anda.

Judul: Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Penulis: Tutik Setianingsih, dkk

Penerbit: UB Press

Tahun: 2018

ISBN: 978-602-432-431-5

Halaman: xiv + 96 halaman

Ukuran: 18 x 25,5

Harga: Rp. 80.000 20% Rp. 64.000

Sinopsis:

Buku ini berisi 9 bab yang membahas antara lain:

  • Karakteristik dasar sinar X dan hamburan sinar X yang dihasilkan akibat interaksi sinar X dengan materi (elektron, atom, dan kristal)
  • Aplikasi difraksi sinar X untuk karakterisasi material di berbagai bidang penelitian dan analisis
  • Kajian tentang kristal dengan parameter kristal
  • Mekanisme produksi sinar X, mekanisme filtrasi radiasi sinar X karakteristik oleh logam filter, dan mekanisme kristal menghasilkan difraktogram sinar X.
  • Bagian-bagian penting dalam difraktometer sinar X.
  • Penentuan jenis komponen kristal penyusun materi pacat (analisis kualitatif).
  • Kristalinitas.
  • Ukuran kristal dan regangan kisi.
  • Jumlah komponen kristal yang membentuk padat (analisis kuantitatif).

Ulasan customer dinonaktifkan: Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Maaf, form ulasan customer dinonaktifkan untuk produk ini

Cek juga produk terbaru di toko online kami berikut ini:

Edisi Terbatas
OFF 20%
Hukum Pembiayaan Setoran Awal Haji

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 41.200 Rp 51.500
Pre Order / Istana Agency
Rp 41.200 Rp 51.500
Stok: Pre Order
Kode: Istana Agency
Edisi Terbatas
OFF 20%
Perkembangan Pengaturan Syarat Kerja Melalui Peraturan Perusahaan Dan Perjanjian Kerja Bersama Di Era Digitalisasi

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 100.400 Rp 125.500
Pre Order / Istana Agency
Rp 100.400 Rp 125.500
Stok: Pre Order
Kode: Istana Agency
Edisi Terbatas
OFF 20%
POWER CUBE; Diskursus & Analisa Tentang Kekuasaan

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 84.400 Rp 105.500
Pre Order / Istana Agency
Rp 84.400 Rp 105.500
Stok: Pre Order
Kode: Istana Agency
Edisi Terbatas
OFF 20%
EKLEKTISISME VIA MEDSOS; Merebut Ruang Publik dengan Narasi Positif

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 55.600 Rp 69.500
Pre Order / Istana Agency
Rp 55.600 Rp 69.500
Stok: Pre Order
Kode: Istana Agency
SIDEBAR