Butuh Bantuan? Customer service Istana Agency siap melayani dan membantu Anda.
Bagi kalian kolektor buku, baik Reseller maupun Non-Reseller. Dalam Rangka Menyambut bulan suci Ramadhan, ISTANA AGENCY mengadakan Promo Special lebih dari 500 judul buku hadir dengan DISKON 40-50%!! Jangan Sampai Ketinggalan, Promo Special tanggal 9 April 2020 s.d 9 Mei 2020
Beranda » MIPA » Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Stok:
Berat : 500 gram
Kondisi : Baru
Kategori : MIPA
Dilihat : 309 kali
Ulasan : Belum ada ulasan
Hubungi kami secara langsung untuk pemesanan yang lebih cepat! QUICK ORDER
Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 80.000
Tentukan pilihan yang tersedia!
Rp 80.000
Produk Terkait Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Deskripsi Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Bagikan informasi tentang Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material kepada teman atau kerabat Anda.

Judul: Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Penulis: Tutik Setianingsih, dkk

Penerbit: UB Press

Tahun: 2018

Halaman: xiv + 96 halaman

Ukuran: 18 x 25,5

Harga: Rp. 80.000 20% Rp. 64.000

Sinopsis:

Buku ini berisi 9 bab yang membahas antara lain:

  • Karakteristik dasar sinar X dan hamburan sinar X yang dihasilkan akibat interaksi sinar X dengan materi (elektron, atom, dan kristal)
  • Aplikasi difraksi sinar X untuk karakterisasi material di berbagai bidang penelitian dan analisis
  • Kajian tentang kristal dengan parameter kristal
  • Mekanisme produksi sinar X, mekanisme filtrasi radiasi sinar X karakteristik oleh logam filter, dan mekanisme kristal menghasilkan difraktogram sinar X.
  • Bagian-bagian penting dalam difraktometer sinar X.
  • Penentuan jenis komponen kristal penyusun materi pacat (analisis kualitatif).
  • Kristalinitas.
  • Ukuran kristal dan regangan kisi.
  • Jumlah komponen kristal yang membentuk padat (analisis kuantitatif).

Belum ada ulasan untuk produk Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Silahkan tulis ulasan Anda

Your email address will not be published. Required fields are marked *

*







This site uses Akismet to reduce spam. Learn how your comment data is processed.

Cek juga produk terbaru di toko online kami berikut ini:

OFF 20%
Kupas Tuntas Penelitian Akuntansi dengan SPSS

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 80.000 Rp 100.000
Tersedia / Pustaka Baru Press
Rp 80.000 Rp 100.000
Stok: Tersedia
Kode: Pustaka Baru Press
OFF 20%
SPSS untuk Penelitian

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 36.000 Rp 45.000
Tersedia / Pustaka Baru Press
Rp 36.000 Rp 45.000
Stok: Tersedia
Kode: Pustaka Baru Press
OFF 20%
Manajemen Keuangan; Teori -Aplikasi & Hasil Penelitian

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 36.000 Rp 45.000
Tersedia / Pustaka Baru Press
Rp 36.000 Rp 45.000
Stok: Tersedia
Kode: Pustaka Baru Press
OFF 20%
Metodologi Penelitian Bisnis & Ekonomi

*Pemesanan dapat langsung menghubungi kontak di bawah ini:

Rp 36.000 Rp 45.000
Tersedia / Pustaka Baru Press
Rp 36.000 Rp 45.000
Stok: Tersedia
Kode: Pustaka Baru Press
SIDEBAR